Rudens versija 2025
412 004 šķirkļi
elipsometrija
elipsometrija
Optiska cietvielu pētīšanas metode, kuras pamatā ir tas, ka lineāri polarizēta gaisma, atstarodamās no metāla virsmas, pārvēršas eliptiski polarizētā gaismā.
Avoti: LPE
Korpusa piemēri
Šie piemēri no latviešu valodas tekstu korpusa ir atlasīti automātiski un var būt neprecīzi.
  • Ievai Plikusienei no Viļņas Universitātes " Sievietēm zinātnē" apbalvojums piešķirts par pētījumu, kurā zinātniece novērtē SARS-CoV-2 olbaltumvielu mijiedarbības ar specifiskām antivielām, izmantojot spektroskopisko elipsometriju.
  • Optiskā reflektometrija un elipsometrija plānu kārtiņu biezuma un laušanas koeficienta noteikšanai vad
  • LU Cietvielu fizikas institūts par darbu Segnetoelektrisku heterostruktūru optisko īpašību pētīšana ar elipsometriju un spektrālo refraktometriju vad
  • 5.1877 Nelineāri optiskā elipsometrija 1055
  • Grāmatvedības standartizācijas attīstības aspekti 1 Ilzei Aulikai par oriģināliem segnetoelektrisko plāno kārtiņu pētījumiem maģistra darbā Segnetoelektrisku heterostruktūru optisko īpašību pētīšana ar elipsometriju un spektrālo reflektometriju 2